ナノ計測 電子線・光・プローブ技術を用いたナノ・バイオ材料の探索と評価
重川 秀実
近代科学社本書は、数ある計測技術／手法について、電子線を用いる方法、光を用いる方法、原子レベルでの観察を可能とする走査型プローブ顕微鏡法に分けて解説する。単なる計測法の紹介ではなく、その原理や最先端の研究例についても図版を使って説明する。
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書籍情報
著者: 重川 秀実
共著者: , 吉村 雅満, 目良 裕, 岡嶋 孝治
発行日: 2020-09-01
最終更新日: 2020-09-01
バージョン: 1.0.0
ページ数: 199ページ(PDF版換算)ページ
対応フォーマット: PDF, EPUB
出版社: 近代科学社
対象読者
透過電子顕微鏡(TEM),走査型透過電子顕微鏡(STEM),走査電子顕微鏡(SEM),ポンププローブ法,X線光電子分光法(XPS),走査トンネル顕微鏡法(STM),原子間力顕微鏡法,走査型イオン伝導顕微鏡(SICM),走査型電気化学顕微鏡(SECM)に興味がある人
著者について
東京大学工学系研究科博士課程物理工学専攻中退．工学博士．東京大学工学部物理工学科助手，筑波大学物質工学系助教授などを経て現在，筑波大学数理物質系教授．専門は，極限計測，ナノ物性．著書/訳書に，『極限実験技術（朝倉物性物理シリーズ4）』（分筆，朝倉書店，2003年），『いかにして実験をおこなうか—誤差の扱いから論文作成まで—』（翻訳，分筆，丸善出版，2006年）などがある．
目次
第1章 序論
- 1.1 ナノテクノロジーとナノ計測
- 1.2 ナノ構造と物性
- 1.3 計測とは
- 1.4 各種プローブの測定環境と分解能
第2章 電子線と光を用いたナノ計測・評価法
- 2.1 電子線を用いる方法
- 2.2 光を用いる方法
第3章 プローブ顕微鏡を用いる方法と応用
- 3.1 プローブ顕微鏡法を用いたナノ計測・評価法
- 3.2 太陽電池材料，pn接合の局所評価
- 3.3 単一分子の伝導計測
- 3.4 分子間力測定
- 3.5 細胞力学診断
- 3.6 固液界面
- 3.7 STM発光分光法